理科学機器(真空装置、高温・低温実験装置)の設計・製造・販売 |
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特 徴 半導体デバイスをプロービングし、温度変化に よる特性を計測する装置です。 冷却に液体窒素を使用しており、80Kから500K まで広範囲な温度制御が可能です。 冷却した状態でサンプル交換可能なロードロックを 採用しております。 既存のグローブボックスから大気にふれることなく プロービングシステムへサンプルをマウントする事 が出来ます。 弊社では様々な使用目的に合った設計を行って おります。詳細についてはお問い合わせ下さい。 |
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仕 様 最低到達温度 80K以下 冷却方式 液体窒素伝導冷却方式 温度コントロール範囲 80K以下〜500K 温度コントロール精度 設定温度に対して±0.1K程度 冷却時間 80Kまで約30分 サンプル交換方式 ロードロック方式 信号取出用コネクター BNC、SMA、V、K、トライアクシャル等 付属品 温度コントローラー・温度センサー・デジタルカメラ 液晶モニター・光源ユニット (本装置には別途、高真空排気装置が必要です。) |
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